1.    使用初期的故障

　　以光电开关、接近开关等为主体的检测开关，半导体一般会在使用初期发生故障。

　　其原因是使用在回路中的半导体，在制造中受到种种应力而导致在使用开始后的短期内发生破损；另外，功率比半导体低的电阻、电容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的发生时间，根据制造方法的不同而不同，不能一概而论，一般多发生在使用开始后的一星期到10天内。

　　2.    偶发故障

　　包括由于半导体部件的不良而引起的故障，电阻、电容的断线、短路、容量不足，电路板的电路断裂、带焊料等的不良现象，但发生率极低。接近开关经常发生故障时，可以考虑为使用环境的问题，可向硕方询问相关。

　　3.    负荷短路与配线错误

　　由于配线错误或带电作业引起负荷短路时，导致大电流流向检测开关，输出回路烧毁。作为在检测开关外进行的保护对策，可使用切断快速熔断器短路电流的方法，通过熔断器进行保护，不仅可保护负荷短路，还对地线有保护作用。但是，由于开关内的输出晶体管的残余容量小，达不到100[%]的效果。

　　4. 干扰波导致的破损

　　由干扰波带来的破损是慢慢形成的，因此在开始使用后的一个月或二三个月后发生破损是极其普通的。因此，在该期间发生破损时，其原因则可判断为干扰波。电感负载开闭时发生的检测开关的瞬间错误动作是由干扰波造成的。